德國E+H恩德斯豪斯雷達物位計德國進口 非接觸式測量。適用于各種惡劣工況（例如有毒高侵蝕性），且不受被測介質物理特性變化影響的外部測量。 主要型號有：FMR230,FMR231,FMR240,FMR244,FMR245,FMR250,FMR530,FMR531,FMR532,FMR533
接觸式測量。與被測介質的物理特性變化無關。耐溫達150度，耐壓達40bar。
主要型號有：FMP40,FMP41C,FMP45
無需標定和維護。適用于所有液體，亦適用于粘結、攪拌及含氣泡的介質，與被測介質的介電常數無關。耐溫達150度，耐壓達64bar.
型號有:FTL50,FTL51,FTL51C,FTL50H,FTL51H,FTL70, FTL71,FTL20,FTL260。
FTL375P音叉物位測量儀 無需標定和維護。適用于顆粒直徑小于10mm的顆粒及粉塵，耐溫高達150度，耐壓達16bar。 型號有：FTM50,FTM51,FTM52,FTM30/31/32（D/S）,FTM20/21,FTM260
FTL375P音叉物位測量儀 L375N音叉物位測量儀 FTL325P音叉物位測量儀 FTL325N音叉物位測量儀
FDL60音叉物位測量儀 FTL71音叉物位測量儀 FTL70音叉物位測量儀 FTL51C音叉物位測量儀
FML621音叉物位測量儀 智能化壓力傳感，適用于液體、漿料、泥漿，與泡沫及介電常數無關。耐溫高達100度，耐壓達4bar。
主要型號有：DB50,DB50L,DB51,DB52,DB53,FMX167,FMX165,FTC51,FTC52,FTC53
DB53A靜壓物位測量儀 DB52A靜壓物位測量儀 FMB70靜壓物位測量儀 FMX167靜壓物位測量儀
E+H電容式物位計及開關：適合于各種液體，同樣適用于侵蝕性介質和粘結介質。耐溫達400讀，耐壓達500bar。 庫存管理或貿易結算的高精度液位計量 主要用于石油成品油及化學用品液體的精度測量，測量精度主要在1MM以內，基本上采用調頻連續(xù)波原理。價格昂貴，應用量也有限，故只有少數公司生產，有適用于不同場合的喇叭、拋物面及陣列天線. 用于過程物位監(jiān)測 由于工業(yè)過程種類繁多，儀表必須適應各種介質，以及不同的溫度、壓力范圍。精度約為0.1%FS或者5mm。這幾年，過程級微波物位計發(fā)展很快，主要是加速普及。在性能提高的同時，價格也相對適中，適用于更多工況。固態(tài)物料料位，特別是氣體輸送料狀料位（煙灰、成品水泥）一直是物位測量中的難題，但是雷達物位計可以穩(wěn)定、可靠的測量。天線接收反射的微波脈沖并將其傳輸給電子線路，微處理器對此信號進行處理，識別出微脈沖在物料表面所產生的回波。正確的回波信號識別由智能軟件完成，精度可達到毫米級。距離物料表面的距離D與脈沖的時間行程T成正比： D=C×T/2
其中C為光速
因空罐的距離E已知，則物位L為：
L=E-D通過輸入空罐高度E（=零點），滿罐高度F（=滿量程）及一些應用參數來設定，應用參數將自動使儀表適應測量環(huán)境。對應于4－20mA輸出。 智能雷達物位計的測量條件 測量范圍從波束觸及罐低的那一點開始計算，但在特殊情況下，若罐低為凹型或錐形，當物位低于此點時無法進行測量。 若介質為低介電常數當其處于低液位時，罐低可見，此時為保證測量精度，建議將零點定在低高度為C 的位置。 理論上測量達到天線*的位置是可能的，但是考慮到腐蝕及粘附的影響，測量范圍的終值應距離天線的*至少100mm。 對于過溢保護，可定義一段安全距離附加在盲區(qū)上。zui小測量范圍與天線有關。 隨濃度不同，泡沫既可以吸收微波，又可以將其反射，但在一定的條件下是可以進行測量的。 這是迄今為止可實際投入工業(yè)領域應用僅有的一種可以準確檢測固體物料和體積的創(chuàng)新和成熟技術，JIEKES介可視3D物位體積掃描儀不受物料種類，物化性能，貯存物料間，開放倉或料倉的類型和尺寸的影響并適用于惡劣的物料貯存環(huán)境。JIEKES介可視3D物位體積掃描儀利用三個信號傳送器發(fā)射低頻脈沖，并接受來自筒倉，開放倉或者其他料位倉內物料表面的脈沖回波。通過使用三個喇叭口天線，設備不僅能夠監(jiān)測到每個回波的時間/距離，還能監(jiān)測到回波的方向。 設備的數字信號處理器對接收到的信號進行取樣和分析，非常準確的監(jiān)測出物料的物位、體積和質量，生成料倉內物料的實際分布狀況的三維立體圖像，并在遠程 電腦上顯示出來。JIEKES介可視3D物位體積掃描儀這款*的產品實際上可以監(jiān)測儲存在各種料倉包括筒倉，大型開放倉，固體物料儲存室，堆場和倉庫中的各種散狀固體物料，標出料倉內的物料物位以及繪制出物料隨時變化兒隨機形成的不規(guī)則表面形狀，計算出物料的實際體積，使物位監(jiān)測水平達到了新的高度，從而可以提供方案解決目前技術無法解決的問題。JIEKES介可視3D物位體積掃描儀器所發(fā)出的低頻聲波可穿透懸浮的粉塵，而不像其他技術非常惡劣環(huán)境下測量時會存在疑惑的信號。聲波信號含有的自潔功能可防止材料黏附在JIEKES介可視3D物位體積掃描儀設備的內表面，從而保證在任何惡劣的環(huán)境下以非常低的維護量進行長期可靠的工作。 德國E+H恩德斯豪斯雷達物位計德國進口 |
